卒業生の山口君のLDOに関する次の論文がIEEE Solid-State Circuits Letter(SSC-L)に採択されました.
A Fully Integrated Digital LDO With Adaptive Sampling and Statistical Comparator Selection
by Shun Yamaguchi, Takashi Hisakado, Osami Wada and Mahfuzul Islam
卒業生の山口君のLDOに関する次の論文がIEEE Solid-State Circuits Letter(SSC-L)に採択されました.
A Fully Integrated Digital LDO With Adaptive Sampling and Statistical Comparator Selection
by Shun Yamaguchi, Takashi Hisakado, Osami Wada and Mahfuzul Islam
IEEEのAsian Solid-State Circuits Conferenceにてマーフズ講師はディジタルLDOに関する研究成果を発表しました.この論文の内容は卒業生の研究成果であり,TSMCの65nmプロセスにチップ実証したものです.
Shun Yamaguchi, Takashi Hisakado, Osami Wada, and Mahfuzul Islam, “An Adaptive-Sampling Digital LDO with Statistical Comparator Selection Achieving 99.99% Maximum Current Efficiency and 0.25ps FoM in 65nm,” in IEEE Asian Solid-State Circuits Conference (A-SSCC)
IPSJ Transactions on System LSI Design Methodologyに次の論文が採択されました.2月に発行される予定です.この論文は卒業生の北村君の研究成果をまとめたものです.
論文題目: Design of Reference-free Flash ADC With On-chip Rank-based Comparator Selection Using Multiple Comparator Groups
著者: Takehiro Kitamura, Takashi Hisakado, Osami Wada, and Mahfuzul Islam
10月の24日から27日までに開催されたIEEE 15th International Conference on ASICにマーフズ講師が参加し,「Utilizing Order Statistics for Low-power Analog Circuit Design in Scaled CMOS Technologies」という題目で招待講演をしました.